サムスン職業病集団労災申請3人追加...職業病情報提供約60人

「サムスンで働いて病気になって死んだり闘病する労働者が『業務関連性証拠』」

半導体労働者の健康と権利を守る会、『パノルリム』は7月23日、ソウル市永登 浦の勤労福祉公団に3人のサムスン電子勤務経歴がある労働者に対して集団労災 申請をした。今回新しく労災申請をしたのはサムスン半導体器興工場のオ・サ ングン氏(脳腫瘍)、サムスン半導体温陽工場のイ・ユンジョン氏(脳腫瘍)、サ ムスン電子LCD天安工場のイ・ヒジン氏(多発性硬化症)等だ。

パノルリムはこの日、3人に対する集団労災申請を行い、「勤労福祉公団は労働 災害補償保険法の趣旨に合わせ、彼らに『個人疾患という明白な反証がなけれ ば』、労災と認め、被害者に適切な治療と補償をし、サムスンの有害な作業条 件と作業環境などを改善しろ」と要求した。

「発ガン物質などに持続的に露出」

オ・サングン氏は1959年生まれで1983年にサムスン電子富川工場(温陽工場の前 身)に入社、84年からサムスン半導体器興工場1、2、5、6、7ラインで設備運営、 インプランターイオン注入装置設備エンジニアとして勤務、2007年の退社まで 24年ほど勤務した。パノルリムによれば、オ・サングン氏は勤務の過程で有毒 ガスと化学物質、インプランター工程の特性上、特に放射線に数十年間露出し てきて、入社初期はそれへの適切な保護装備さえ支給されなかった。また防毒 マスクなどが提供された後も設備を修理するなどの異常な状況では防毒マスク を着用できない構造で着用しなかった。オ氏は2001年5月に悪性脳腫瘍と判定さ れた。呉氏本人や家族には関連疾患者がなく、入社当時はとても健康だった。

パノルリムは「オ氏は設備点検および補修作業とガス交換の時、日常的にヒ素、 フォスフィン、三フッ化ホウ素などの有毒ガスに露出し、インプランターイオ ン注入機は三つの化学ガス(ヒ素、フォスフィン、三フッ化ホウ素)を使った」 とし「3か月、6か月などの定期的な設備点検とガス交替と設備故障時には該当 ガスに常時露出していた」と説明した。オ氏が露出していたというフォスフィ ン(PHOSIPHINE/ CAS NO. 7803-51-2)は、ユダヤ人虐殺に使われた有毒ガスで、 人体には致命的だ。また他のガスのヒ素(ARSENIC/ CAS NO. 7440-38-2)は国際 ガン機関が発ガン物質と規定し、ヒ素に露出すると呼吸困難、血液障害、骨異 常、肝臓異常、ガン発病、神経異常，生殖系への影響などの原因になる。

オ氏はまた、放射線に露された可能性も提起された。パノルリムは、「イオン インプランター設備は高電圧を利用する設備なので、作業時は常時放射線に露 出する」とし「1983年の入社時から、最初は放射線照射を測定もせず、その後、 放射線調査量を測量するフィルムバッジなどが支給されたが実際の作業ではほ とんど着用せず働いた」と伝えた。

オ氏は現在、坑ガン治療と方書では治療、アイソトープ治療、3回の手術などで 闘病中で、頻繁な脳けいれんにより薬を服用をしている。

パノルリムは、オ・サングン氏の業務と脳腫瘍との間に相当な因果関係がある と強調した。パノルリムは「ヒ素(アルシン)、フォスフィン、三フッ化ホウ素 など、ガンを誘発し中枢神経を標的臓器して致命的であることもある化学ガス に、1983年から2001年(発病当時)まで18年間露され、設備点検および補修作業、 設備故障時の修理作業、ガスボンベ交換など、定期的かつ常時的に有毒ガスに 露出した」と明らかにした。パノルリムは「サムスン半導体器興工場で集団で 発病した白血病などの血液ガン(故ファン・ユミ、故イ・スギョン、故ファン・ ミヌン、故キム・ギョンミ、チュ・ギョチョルなど)と黒色腫、肉芽腫の被害者 は、器興工場の1〜5ラインに集中しており、被災者は採用前は健康で、家族に 類似の疾病はない」とし、業務との関連性を強調した。

「サムスンの長時間労働強度もガンに影響」

また別の労災申請者イ・ユンジョン氏は、長時間の夜間勤労と化学物質露出な どの業務の関連性が提起された。イ・ユンジョン氏は1980年生まれで1997年に サムスン電子温陽工場に入社し、2003年5月に退社した後、2010年5月4日、順天 郷病院(松内)で悪性脳腫瘍と判定された。イ・ユンジョン氏は脳手術後の現在、 放射線による腫よう治療と坑ガン治療をしている。

イ氏はサムスン電子温陽工場でテスト工程MBT Burn-in工程だけで6年勤務した。 イ氏は電子製品(デバイス)を高温設備で焼く作業中に、高温状態で誤作動した り焼けてしまった不良品をフィルタリングする作業をした。

パノルリムは「李氏がサムスン半導体温陽工場に入社して、高熱テスト業務を 行い、12時間二交代という長時間勤労と高い労働強度で働いた」とし「半導体 チップの高熱テストおよび不良検査業務の過程で適切なマスクも着用しなかっ た。排気装置がむしろ有害化学物質の露出を増加させる構造で、テスト過程で 電流が流れた状態の半導体チップなどのデバイスについた有害化学物質とボー ドについた化学物質などが高温で蒸気として発生し、露出した」と業務との相 関関係を指摘した。

パノルリムは「李氏が特に製品(デバイス)が高温に耐えられず焼けた場合、有 害化学物質が煙/ヒューム/蒸気の形態で露出し、電子製品が焼ける臭い(煙)を 吸った」とし「サムスン半導体でのつらい長時間深夜労働と保護区着用もない 仕事で露出した化学物質および金属ヒューム、電磁波などの有害な危険要因で 脳腫瘍が発生したのだから、労働災害補償保険法律上の業務上疾病と認定され なければならない」と要求した。

『多発性硬化症』にかかったイ・ヒジン氏は、釜山トンミョン情報女子高3学年 に在学していた2002年11月18日、学校の推薦でサムスン電子LCD天安事業場に入 社し、LCDモジュールと検査部署に所属し、LCDパネルの画質検査社員として2交 代や3交代をしながら普通一日12時間以上検査業務をした。

イ・ヒジン氏は入社4年目の2006年5月、腕と脚がしびれるなどの症状で00整形 外科訪問し、2007年2月15日、手足のしびれとマヒ症状で勤務を続けるのが難し くなり退社した。李氏は右側手と脚のマヒ、左側脳の異常、右視力を喪失し、 脳梗塞と誤診され労災を申請したが不承認処分を受けた。李氏は2008年6月30日、 釜山の仁済大学校病院で『多発性硬化症』と確定診断を受けた。多発性硬化症 は、中枢神経界疾患で、神経細胞を囲む組織に異常が生じ、中枢神経界のいろ いろな所に炎症性の病変が生じる疾病だ。

パノルリムは、「李氏の疾患は2002年11月18日の入社から3年6か月、LCDパネル の検査業務をしていた時の過労とストレスによるもので、2006年5月以前の勤務 形態と過労、ストレスを考慮し、業務との因果関係を判断しなければならない」 と主張した。また「2006年5月以後に発生した整形外科的、眼科的、神経外科的 な症状も、多発性硬化症の症状と見るべきで、2007年の脳梗塞診断も、多発性 硬化症が脳に作用して発生した疾患と見るべきなので『脳梗塞』ではなく、 『多発性硬化症』が診断名」と明らかにした。パノルリムは「李氏がサムスン 電子LCD天安工場で検査業務をして露出した長時間勤務、深夜労働を含む交代勤 務、不規則な勤務形態(3交代→2交代→3交代など)変更、検査業務そものもの緊 張とストレス、不良発生時のストレス、検査物量をこなさなければならないと いうストレスなどの過労とストレスが多発性硬化症を起こしたと考えるのが相 当で、業務上の疾病と認められなければならない」と明らかにした。

パノルリムは「サムスン半導体、サムスンLCD、サムスン電気など、サムスンで 発生した多くの白血病被害者をはじめとする職業病被害労働者の情報提供は約 60人になる」とし「そのうち13人の労働者がパノルリムと共に労働災害申請を したが、勤労福祉公団は労災審査が終わった被害者には業務関連性がないとし、 全部不承認にした」と非難した。パノルリムは「『業務関連性の証拠』は、他 でもないサムスンで働いて病気にかかり死んだり闘病している労働者が、まさ に明白な『業務関連性の証拠』だ」と明らかにした。

原文(チャムセサン)

翻訳/文責:安田(ゆ)
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